Прошло некоторое время с момента написания статьи, но ряд упущений в ней актуален и на сегодняшний день.
Допускаю, что автор тестирования является неплохим программистом и его программа действительно позволяет выявить примерный срок существования флеш-накопителя в работоспособном состоянии. Но. Для полной чистоты эксперимента нужно было оставить флешку в ее естественном виде, т.е. не разобранном. Если же стояла задача узнать, каким образом можно облегчить и т.о. продлить работу устройства, то на тестирование нужно было выставить минимум 4 одинаковых кандидата, оснастив каждого особым условием функционирования.
Ошибочно полагать, что микросхема, которая является местом хранения информации, больше всего нуждается в охлаждении. А полученный результат тестирования не подтверждает выход из строя самой флеш-памяти. Как радиоэлектронщик, сам экспериментатор оказался не ахти. Наибольшую нагрузку флеш-накопителя несет на себе микроконтроллер, так как он выполняет всю "мыслительную" и организаторскую работу. При этом, потребляя больше энергии, он больше всего нагревается и чаще других элементов флешки подвержен выходу из строя.
В результате ценность описанного только в том, что автор убедился в способности программы по "убиванию" флешки.